В России разработаны роботы с искусственным интеллектом, которые превосходят японские и корейские аналоги в проверке качества чипов.
Эти роботы-инспекторы, созданные на основе отечественных технологий, уже проходят испытания на российских предприятиях.
Они способны выявлять мельчайшие дефекты, такие как трещины и обрывы дорожек, что помогает улучшать технологический процесс и снижать себестоимость продукции, сообщает «Известия».
Размеры проверяемых изделий варьируются от 0,1 мм до 300 мм, а камеры роботов имеют разрешение до трех микрон.
Скорость проверки достигает одного квадратного сантиметра в секунду, отметил Вячеслав Малышев, старший инженер АО «ЦКБ «Дейтон».
Программное обеспечение для этих роботов основано на отечественных патентах, а нейронные сети обучены на более чем шести тысячах изображений.
Благодаря машинному обучению оборудование может адаптироваться к новым типам устройств и изменяющимся стандартам.
На этапе опытной эксплуатации российские роботы уже демонстрируют превосходство над аналогами от мировых лидеров, таких как японская MEK Marantz Electronics и южнокорейская Koh Young Technology.
Роботы проверяют микросхемы на разных стадиях производства, используя алгоритмы машинного зрения для анализа каждого компонента.
Комплекс включает в себя различные приборы, которые сканируют чипы и кремниевые пластины, выявляя дефекты и сортируя изделия по категориям.
Контроль качества в микроэлектронике — это ключевой процесс, и возможности машинного зрения значительно превосходят человеческие, особенно при работе с микронными размерами, подчеркнул Малышев.
Автоматизация этих процессов обеспечивает высокую точность и повторяемость результатов.
Алексей Сочнев из Сибирского федерального университета добавил, что машинное зрение предоставляет более точную статистику выявления дефектов по сравнению с визуальным контролем человека.
ЦКБ «Дейтон» разрабатывает систему автоматизированного оптического контроля дефектов, о чем сообщалось в октябре 2024 года.
В марте 2025 года Томский государственный университет представил математическую модель и ПО для оценки качества радиоэлектронной аппаратуры.